痕跡比較顯微鏡采用伽利略光學(xué)系統(tǒng)，光路無(wú)差異，平行的兩束光，產(chǎn)品通過(guò)兩個(gè)大視場(chǎng)目鏡同時(shí)觀察到左右兩光學(xué)系統(tǒng)物方物體的像，從而對(duì)物證通過(guò)對(duì)接，重疊，單面觀察進(jìn)行宏觀和微觀上的比較，以鑒別它們?cè)谛问缴匣虿牧仙洗嬖诘奈⑿〔町惡拖嗨菩裕_(dá)到鑒別物證之間相關(guān)性和真?zhèn)涡浴Ｋ饕糜跇審椇圹E比對(duì)，線頭痕跡比對(duì)，工具痕跡比對(duì)，印章，錢幣，文字等。廣泛應(yīng)用于公安，檢察院，法院等部門作刑偵物證，文件鑒定和相關(guān)專業(yè)大學(xué)的培訓(xùn)教學(xué)，也用于需要對(duì)物件進(jìn)行比對(duì)鑒別的部門，實(shí)驗(yàn)室，鑒定司法機(jī)構(gòu)和研究機(jī)構(gòu)。

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